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SpecMetrix? 高級實(shí)驗(yàn)室涂層厚度測量系統(tǒng)SpecMetrix?
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SpecMetrix?
實(shí)時涂層厚度與膜重測量工具-助力QA質(zhì)量保證
工業(yè)物理（IP）
美國
納米級精度，實(shí)時測量，便于運(yùn)輸，易于升級
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可靠且可重復(fù)的系統(tǒng)，提供更精確的涂層質(zhì)量保證和測試數(shù)據(jù)
配備 2D 和 3D 圖形的繪圖軟件，用于對涂層厚度和膜重分布進(jìn)行可視化分析模塊化設(shè)計(jì)
模塊化設(shè)計(jì)便于系統(tǒng)重新配置和升級
可同時測量多個涂覆層，并顯示單個層及各層組合的厚度峰值
SpecMetrix 高級實(shí)驗(yàn)室涂層厚度測量系統(tǒng)可在單點(diǎn)和掃描模式下提供高度精確的非接觸式樣品檢測
提供更精確的涂層和層厚測量數(shù)據(jù)，簡化QA質(zhì)量保證測試并改進(jìn)過程控制
SpecMetrix 高級實(shí)驗(yàn)室系統(tǒng)為樣品上涂料和涂層的非接觸、非破壞性以及實(shí)時厚度測量提供了更高標(biāo)準(zhǔn)。
該系統(tǒng)旨在簡化QA質(zhì)量保證流程，憑借其獨(dú)特的能力，可以納米級精度識別和量化絕對薄涂層或?qū)雍?，因此成為?shí)驗(yàn)室首選的分析工具。SpecMetrix 高級實(shí)驗(yàn)室系統(tǒng)能夠加速離線樣品測試，并顯著提升原材料和成品的檢驗(yàn)質(zhì)量。
實(shí)現(xiàn)涂覆平面樣品和零部件的實(shí)時離線測試
實(shí)驗(yàn)室配件包括樣品測試臺、樣品固定架和實(shí)驗(yàn)室專用探頭
測量范圍：0.2 至 250 微米(涂層厚度)
精度：涂層厚度的 +/- 1%(標(biāo)稱值)*
*所提供的精度數(shù)字是基于在 0.2 至 250 微米的整個測量范圍內(nèi)使用
NIST 可追溯厚度標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行的精度驗(yàn)證。
測量速度：高達(dá)每秒 100 次
溫度范圍：0℃ 至 45℃
輸出單位：
微米 microns
密耳 mils
毫克/平方英寸 mg/in2
毫克/4平方英寸 mg/4in2 克/平方米 g/m2
毫克/平方厘米 mg/cm2 磅/令 lbs/ream
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